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助力中国创造的高性能测试仪器

日期:2014年2月25日 08:47

  11月13日,由《电子产品世界》杂志社与中电会展信息与传播有限公司共同主办、中国电子学会电子测量与仪器分会指导的“首届仪器仪表器件选型技术研讨会”在上海第82届全国电子展上召开。本次研讨会以“助力中国创造的高性能测试仪器”为主题,邀请了国内外半导体器件及电子测试仪器领先企业,与大家共同探讨如何借助半导体器件实现高性能测试仪器的设计与实现。

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/198041.htm
  在开幕致辞中,中国电子器材总公司副总经理陈雯海谈及主办会议的意义时强调,更希望借助这一会议,能够帮助国内的电子测试仪器企业在展示自己产品的同时,与来自国内外优秀的半导体器件供应商进行深入的交流,深入了解最新的可以用于中高端测试设备的电子器件,从而在半导体企业的支持下,能够借助恰当的半导体产品实现高性能测试设备的研发,进军高性能电子测试市场。中国电子学会电子测量与仪器分会崔建平秘书长则具体分析了测试仪器产业面临的现状,特别指出在国外测试仪器厂商纷纷面临各自内部问题之际,中国本土企业应该抓住这样的时机,利用本地化庞大的市场优势,尽快打入中高端市场,真正站在技术和市场领先的舞台参与到市场竞争中。

 

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